Fabricação de um elipsômetro óptico para monitorar a topografia superficial de filmes nanomêtricos

Fabricação de um elipsômetro óptico para monitorar a topografia superficial de filmes nanomêtricos

• Autor
• Helena Alapenha Ferreira Gomes
• Co-autores
• Breno Almeida Chaves , Weliton S. Martins , Albert S. Reyna
• Resumo

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  Com o crescente avanço das tecnologias eletrônicas e de processamento de informação, desenvolvidas nas últimas décadas, uma série de dispositivos automatizados com alto desempenho e eficiência foram fabricados e implementados em várias atividades que abarcam desde o cotidiano até processos industriais complexos. A importância de um sistema automatizado consiste em facilitar o desenvolvimento de um determinado processo a partir da substituição da mão de obra humana por sistemas otimizados capazes de reduzir custos, aumentar a quantidade e a qualidade dos produtos/serviços produzidos, além de reduzir o tempo necessário para sua execução/produção. O uso de dispositivos automatizados também é essencial no campo da pesquisa científica. Um exemplo claro pode ser visto nas áreas de nanociência e nanotecnologia, onde a automação tem permitido o desenvolvimento de uma série de novas técnicas voltadas a fabricação e caracterização de diversos materiais em escala nanométrica. Neste contexto, nosso projeto consiste na fabricação de um protótipo original de um elipsômetro de ângulo variável; um dispositivo óptico capaz de medir o índice de refração, coeficiente de absorção e a espessura, na ordem de nanômetros, de diversas classes de nanofilmes e nanoestruturas plasmônicas. Para isto, foram desenvolvidos as diversas etapas do projeto de pesquisa que incluem a idealização das funções do dispositivo científico, a projeção e o design do dispositivo, bem como a usinagem das peças mecânicas, circuitos elétricos/eletrônicos e o desenvolvimento de um programa de controle e automação que permita medir, de forma autônoma, e entregar ao usuário os parâmetros ópticos dos nanomateriais analisados. Por tanto, o trabalho visa além de ampliar os conhecimentos sobre processos de fabricação de dispositivos mecatrônicos e técnicas de caracterização óptica de nanomateriais, gerar uma economia financeira aos laboratórios de ensino e pesquisa da UACSA-UFRPE, devido a que tal equipamento tem um grande valor monetário no âmbito científico-tecnológico.

   

• Palavras-chave
• Elipsômetro Elipsometria
• Área Temática
• UACSA - Engenharia Elétrica