Desenvolvimento de um elipsômetro óptico para caracterização de filmes finos

  • Autor
  • Breno Almeida Chaves
  • Co-autores
  • Helena Alapenha , Weliton S. Martins , Albert S. Reyna
  • Resumo
  •  

    Com a rápida evolução da nanociência e nanotecnologia, diversos tipos de nanomateriais vem sendo fabricados para diversas aplicações no âmbito científico e industrial. Neste contexto, uma das principais necessidades é garantir que as amostras fabricadas possuam morfologias e tamanhos exatos que permitam uma determinada aplicação. No entanto, devido as dimensões dos componentes apresentarem escalas nanométricas torna-se complicado uma caracterização simples e rigorosa que permita identificar a qualidade do nanomaterial. Uma solução a este problema consiste em utilizar dispositivos de alta tecnologia como microscópios eletrônicos de transmissão e varredura, disponíveis no mercado, porém como custos muito elevados. Com base neste contexto, o presente projeto apresenta os procedimentos de fabricação de um elipsômetro de ângulo variável, de baixo custo e com alta eficiência, voltado para a caracterização óptica de filmes finos e medidas de espessuras nanométricas. O elipsômetro é um sistema capaz de medir as variações de intensidade da luz refletida por uma amostra em função do ângulo de incidência, permitindo identificar o estado de polarização da luz refletida para diversos ângulos. Desta forma, o elipsômetro permite determinar o ângulo de Brewster e, consequentemente, o índice de refração e espessura das amostra em estudo. Um programa em Labview foi desenvolvido para o controle e operação automatizada do elipsômetro. O presente projeto visa além de ampliar os conhecimentos no que refere aos conceitos sobre processos de fabricação de dispositivos mecatrônicos e técnicas de caracterização óptica de nanomateriais, gerar uma economia financeira aos laboratórios de ensino e pesquisa da UACSA-UFRPE, devido a que tal equipamento tem um grande valor monetário no âmbito científico-tecnológico, principalmente nas áreas de nanociência e nanotecnologia.

     

  • Palavras-chave
  • Elipsômetro; Elipsometria;
  • Área Temática
  • UACSA - Engenharia Eletrônica
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As apresentações ocorreram nos dias 06 e 07 de dezembro de 2021.

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Comissão Organizadora

Congresso de Iniciação Cientifica - CIC

Comissão Científica

A comissão científica foi formada por mais de 400 avaliadores entre professores dos diferentes Departamentos e Unidades Acadêmicas da UFRPE e pesquisadores doutores de outras instituições do estado de Pernambuco

 

Para maiores informações e-mail: cic@ufrpe.br 

Para certificado de apresentação e menção honrosa enviar e-mail: chamado.ipe@ufrpe.br, informando nome completo do autor principal, título do resumo e todos os co-autores.

Comissão Organizadora Executiva

Marcelo Brito Carneiro Leão – Reitor

Gabriel Rivas de Melo – Vice-Reitor

Ricardo André Cavalcante de Souza – Diretor do Instituto Ipê

Suzianny Maria Bezerra Cabral da Silva – Diretora do Núcleo de Pesquisa

 

Coordenação Geral

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Severino Henrique da Costa

 

Comissão Organizadora

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Ana Paula Amazonas Soares

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Carlos André De Carvalho Bosco

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Erika F. T. Samico Fernandes Cavalcanti

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Ewerton Ávila Dos Anjos

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Jucleiton José Rufino De Freitas

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Maria Emília Vasconcelos dos Santos

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Millena de Andrade Almeida Gomes Cavalcanti

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Watson Arantes Gama Jr